AES系列热流仪

AES系列

射流式⾼低温冲击测试机给芯⽚、模块、集成电路板、电⼦元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估不可或缺的仪器设备。

温度范围：-120℃〜+300℃；升降温速率⾮常快速，+150℃〜-55℃＜10秒；最⼤⽓流量：30m3 /h；

实时监控被测IC真实温度,
实现闭环反馈，实时调整⽓体温度；升降温时间可控，程序化操作、⼿动操作、远程控制；测试条件：环境温度20℃，30m3/h,5Bar,压缩空⽓或氮⽓；可定制100m3/h⽓体流量快速冲击测试机，⽤于满⾜较⼤测试功率需求

所有设备额定测试条件：⼲球温度：20℃；湿球温度：16℃。进⽔温度：20℃；出⽔温度：25℃。